Serviço aprimorado de controle de poeira para câmeras de visão de máquina da FLIR

Os pesquisadores, fabricantes e especialistas em diagnóstico de áreas especializadas sabem que quanto menor a escala maior a importância de que os dispositivos de imagem estejam livres de qualquer partícula que possa obstruir ou borrar uma amostra ampliada. As aplicações como a microscopia de fluorescência, classificação celular ou tumoral, citometria, diagnóstico hematológico, inspeções de display e fábricas de semicondutores requerem caminhos óticos extremamente limpos para garantir a precisão e confiabilidade dos resultados.

A FLIR faz a limpeza e montagem de todos os conjuntos óticos das câmeras de visão de máquina em nossa fábrica canadense em um ambiente limpo e certificado pela ISO (ISO7 - Classe 10000). Esse nível padrão de controle de poeira é normalmente suficiente para essas aplicações, sendo neste caso “poeira” definida como qualquer partícula estranha. No entanto, algumas aplicações requerem um nível ainda maior deste padrão. Em tais casos, a FLIR oferece o Serviço aprimorado de controle de poeira em todas as suas câmeras de visão de máquina, exceto a Blackfly S Board Level (USB3/GigE) e todos os modelos Firefly.

Método de medição

No teste de contaminação, todas as superfícies que podem conter partículas estranhas são inspecionadas sob uma fonte de luz colimada usando o método de contraste weber. A tolerância padrão para o limiar de contraste weber varia entre os modelos de câmera.

Uma fonte de luz é posicionada a uma distância fixa do flange das lentes da câmera, oferecendo uma fonte de ponto de luz aproximada, equivalente a F/100.

Medição da qualidade da superfície ótica (simplificada)

A figura acima mostra a configuração aproximada do método de medição da qualidade da superfície ótica da FLIR. As definições são as seguintes:

• CO – Superfície exterior do vidro da tampa*
• CI – Superfície interior do vidro da tampa
• SO – Superfície exterior do vidro do sensor
• SI – Superfície interior do vidro do sensor

*Note que apesar da superfície exterior do vidro da tampa seja inspecionada e limpa, não há garantia contra poeira nesta superfície uma vez que o cliente abra o caminho ótico.

Parâmetros de imagem:

• Ganho = 0 dB
• O tempo de exposição estabelecido de tal forma que a Intensidade da imagem seja de 100pts em um formato de pixel de 8-bit e ADC.
• Deslocamentos de nível de preto = 0

Parâmetros do limiar:

Superfícies óticas podem ter anomalias como buracos, arranhões, imperfeições no revestimento, poeira etc. Para testar se as câmeras atendem aos nossos padrões estritos, o tamanho das anomalias é convertido ao diâmetro equivalente para medição. (Nota: esses limiares não se aplicam ao CO). Entre em contato conosco para discutir sobre suas necessidades específicas e/ou requerimentos de projeto.

Nosso comprometimento

Ao manter os requerimentos especializados para detecção de objetos pequenos na fabricação de semicondutores para atender os requerimentos estritos dos dispositivos médicos, nossas câmeras de visão de máquina oferece diversos recursos além do Serviço aprimorado de controle de poeira. Eles incluem controle de firmware e opções de congelamento, longos ciclos de suporte ao produto (10+ anos), e recursos de hardware e software que permitem aos integradores a calibração para reprodução de cor de alta precisão e desempenho com baixa luz.

Estes recursos tornam as câmeras de visão de máquina da FLIR particularmente relevantes para aplicações exigentes em engenharia biomédica, desenvolvimento de produtos óticos, fabricação de semicondutores, pesquisa espacial e outras áreas especializadas.

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